Tencor™针表面光度仪

Tencor™针表面光度仪

解放军的仪器™Alpha-Step®Tencor P-和HRP®-系列手写轮廓仪提供高精度,2D和3D表面测量,测量台阶高度,表面粗糙度,弓和应力,具有行业领先的稳定性和可靠性,满足您的研发和生产要求。

即将来临的事件

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太平洋时间2021年10月19日上午10:00(美国和加拿大)

通过玻璃测量表面形貌

太平洋时间2021年10月20日上午09:00(美国和加拿大)

片材电阻的光斑尺寸和横向分辨率测量

太平洋时间2021年11月9日上午10:00(美国和加拿大)

多接口的Profilm3D

太平洋时间2021年11月18日08:00(美国和加拿大)

用坎德拉降低通信和传感应用的GaAs, InP和其他复合半晶圆的缺陷®

太平洋时间2021年12月8日上午09:00(美国和加拿大)

微电子显示涂层的纳米划痕与测试后3D轮廓术

Alpha-Step®d - 600

Alpha-Step D-600手写分析器为Alpha-Step技术增加了一个电动X-Y工作台,实现了2D和3D步长高度和表面粗糙度测量的自动映射。

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Tencor™P-7

Tencor P-7利用了业界领先的地形传感器和Tencor P-17的超平面扫描技术,为台式手写笔剖面仪提供了性价比最高的平台。

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Tencor™P-17 &Tencor™P-17的

业界领先的Tencor P-17是最新一代台式触控笔轮廓仪,基于超过40年的表面计量经验,为研发和生产环境提供精确的2D和3D台阶高度和表面粗糙度测量。

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Alpha-Step®d - 500

Alpha-Step D-500是一款价格实惠、易于使用的台式手写笔分析器,配有手动X-Y工作台,用于实验室和生产环境的2D步高和表面粗糙度测量。

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Tencor™p - 170

Tencor P-170型形貌仪可实现对化合物半导体行业的全自动测量,支持盒式对盒式晶片处理,包括硅、蓝宝石、碳化硅、砷化镓、玻璃等。

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®-260年

为满足生产环境的高吞吐量和可靠性要求,HRP-260手写轮廓仪结合了高分辨率、长扫描能力和盒式对盒式晶片处理。

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技术文献

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时间轴上的创新

自1977年Alpha-Step 100触控式轮廓仪推出以来,我们的技术专家不断将先进的地形传感器、超平面扫描工作台和全自动测量能力等关键创新产品推向市场。我们的工具不断发展,为您的表面计量要求提供可重复和精确的测量。了解更多关于我们的手写笔分析器创新的丰富历史。

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的烛光®复合半导体和硬盘驱动器的检测系统可以帮助工程师在通信和网络、led、电源设备、传感、太阳能、光伏和数据存储等应用领域实现显著的产量和工艺改进。

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KLA Instruments纳米压头组合提供了精确、可靠和可重复的测试,以在广泛的测试条件下表征材料的静态和动态力学性能。

光学分析器

的Profilm3D®和ζ™️️光学轮廓仪提供快速,非接触的解决方案,3D台阶高度,粗糙度,和其他表面形貌测量,利用干涉仪和ZDot测量技术。

薄层电阻映射器

的Filmetrics®基于超过45年的电阻测量创新和技术专长,薄板电阻测绘仪器已经开发出来。

薄膜反射计

Filmetrics薄膜反射计可在数秒内测量透明薄膜的厚度和折射率,具有行业领先的精度。

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