薄膜测量系统
薄膜测量系统
的Filmetrics®经济实惠的反射仪系列在几秒钟内提供高精度薄膜厚度测量。这些易于使用的工具与智能软件和广泛的附件和配置相结合，可在薄膜厚度测量范围内提供1nm至3mm的最大多功能性。
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Filmetrics F54
将F40的小测量光斑尺寸与集成相机相结合，使用R-Theta平台自动绘制直径达300mm的晶圆。F54先进光谱反射率系统可快速方便地绘制直径高达450mm的样品薄膜厚度。
Filmetrics f54 - xy - 200
F54-XY-200是一种用于测量薄膜厚度，折射率，反射，吸收和表面粗糙度的自动台式映射系统。五种配置覆盖薄膜厚度高达120μm，点尺寸为2μm至100μm。
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从1995年推出第一款薄膜测量仪器开始，Filmetrics的技术专家一直在继续生产关键的创新产品，如AutoBaseline™，使用胶片厚度图像的模式识别，以及内置自动波长校准。超过二十年，Fimentrics提供的创新技术和无与伦比的应用支持为客户提供了可重复且值得信赖的薄膜计量测量。了解有关丰富的创新历史，并了解为什么电影分子仪反射计是薄膜测量的标准。
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仪器
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缺陷检查员
的烛光®复合半导体和硬盘驱动器的检测系统可以帮助工程师在跨越通信和网络，LED，电源设备，传感，太阳能，光伏和数据存储的应用中实现显着的产量和过程改进。
纳宁德斯
KLA Instruments纳米压头组合提供了精确、可靠和可重复的测试，以在广泛的测试条件下表征材料的静态和动态力学性能。
光学分析器
的Profilm3D®和ζ™️️光学轮廓计提供3D步高度，粗糙度和其他表面形貌测量的快速，非接触解决方案，利用干涉仪和ZDOT™测量技术。
薄层电阻映射器
的Filmetrics®基于超过45年的电阻测量创新和技术专长，薄板电阻测绘仪器已经开发出来。
手写笔分析器
的Alpha-Step®, Tencor™P系列和HRP®触控笔功能计使高精度，2D和3D表面计量。手写笔分析器测量行业领先的稳定性和可靠性的步进高度，粗糙度，弓和压力，以及您的研发和生产计量要求。